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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業(yè)迅速發(fā)展首頁-產品系統(tǒng)-膜厚儀系列-反射膜厚儀-RT-V反射透射測量儀
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一、概述
RT-V 系列反射透射測量儀,采用進口氘鹵二合一光源,結合高性能分光光譜儀,可測量獲得紫外到近紅外光譜范圍內薄膜的反射率和透射率光譜,并進一步計算獲得樣品色坐標,以及薄膜厚度、光學常數等信息。
■ 高性價比穿透率、反射率測量解決方案
■ 色坐標計算和薄膜特征解析
■ 模塊化定制,支持在線集成應用
二、產品特點
■ 采用高性能進口氘鹵二合一光源,光譜范圍覆蓋可見光到近紅外范圍;
■ 支持全光譜范圍反射率高精度量測,基于薄膜層上下界面反射光干涉原理,輕松解析單層至多層薄膜特征;
三、產品應用
RT系列反射透射測量儀,可實現各種透明、低對比度、高反射率樣品反射率和穿透率光譜快速精準測量,并進一步計算獲得樣品色坐標、薄膜樣品厚度及光學常數。廣泛應用于各種濾光片、濾鏡、鏡頭、玻璃、染色液、薄膜的測量。
技術參數
武漢頤光科技有限公司(Wuhan eoptics Technology Co., Ltd.)是國內專業(yè)從事橢偏儀以及光學納米測量設備研發(fā)、制造與銷售的高新技術企業(yè),公司由多位具有二十多年偏振光學測量經驗的專家聯合創(chuàng)辦,與華中科技大學緊密合作,是國內橢偏光學儀器領域頗具優(yōu)勢的技術團隊。
公司注冊于武漢東湖國家自主創(chuàng)新示范區(qū),立足光谷,面向全球,為科研和工業(yè)用戶提供儀器、軟件、服務等綜合解決方案。
產品廣泛應用于集成電路、半導體、光伏太陽能、平板顯示、LED照明、存儲、生物、醫(yī)藥、化學、電化學、光學鍍膜、光刻材料等眾多領域。
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