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首頁-產品系統(tǒng)-膜厚儀系列-反射膜厚儀-RT-V反射透射測量儀

RT-V反射透射測量儀

簡要描述:薄膜折射率測試,RT-V 系列反射透射測量儀,采用進口氘鹵二合一光源,結合高性能分光光譜儀,可測量獲得紫外到近紅外光譜范圍內薄膜的反射率和透射率光譜,并進一步計算獲得樣品色坐標,以及薄膜厚度、光學常數等信息。

產品型號:  更新時間:2024-07-04  瀏覽次數:1887

  • 廠家實力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

一、概述

       RT-V 系列反射透射測量儀,采用進口氘鹵二合一光源,結合高性能分光光譜儀,可測量獲得紫外到近紅外光譜范圍內薄膜的反射率和透射率光譜,并進一步計算獲得樣品色坐標,以及薄膜厚度、光學常數等信息。

   高性價比穿透率、反射率測量解決方案

 ■  色坐標計算和薄膜特征解析

 

 ■  模塊化定制,支持在線集成應用

二、產品特點

 

■ 采用高性能進口氘鹵二合一光源,光譜范圍覆蓋可見光到近紅外范圍;

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■ 支持全光譜范圍反射率高精度量測,基于薄膜層上下界面反射光干涉原理,輕松解析單層至多層薄膜特征;

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、產品應用

       RT系列反射透射測量儀,可實現各種透明、低對比度、高反射率樣品反射率和穿透率光譜快速精準測量,并進一步計算獲得樣品色坐標、薄膜樣品厚度及光學常數。廣泛應用于各種濾光片、濾鏡、鏡頭、玻璃、染色液、薄膜的測量。

 

 

 

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技術參數

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武漢頤光科技有限公司(Wuhan eoptics Technology Co., Ltd.)是國內專業(yè)從事橢偏儀以及光學納米測量設備研發(fā)、制造與銷售的高新技術企業(yè),公司由多位具有二十多年偏振光學測量經驗的專家聯合創(chuàng)辦,與華中科技大學緊密合作,是國內橢偏光學儀器領域頗具優(yōu)勢的技術團隊。

公司注冊于武漢東湖國家自主創(chuàng)新示范區(qū),立足光谷,面向全球,為科研和工業(yè)用戶提供儀器、軟件、服務等綜合解決方案。

 產品廣泛應用于集成電路、半導體、光伏太陽能、平板顯示、LED照明、存儲、生物、醫(yī)藥、化學、電化學、光學鍍膜、光刻材料等眾多領域。

 

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