資訊中心NEWS CENTER
在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業(yè)迅速發(fā)展橢偏儀是一種常見而重要的光學工具,用于測量和分析偏振光的性質(zhì)和參數(shù)??梢酝ㄟ^測量偏振光經(jīng)過樣品后的振幅比值、相位差和偏振橢圓的形狀來對光進行分析。這些參數(shù)可以反映樣品的偏振性質(zhì)、介質(zhì)特性以及光與物質(zhì)之間的相互作用等信息。結(jié)構(gòu)和工作原理:1、光源和偏振器:通常采用穩(wěn)定且具有已知偏振方向的光源,如激光器或白光源,并通過偏振器產(chǎn)生單一方向的偏振光,以確保測量的準確性和一致性。2、波片系統(tǒng):波片系統(tǒng)包括一個固定波片和一個旋轉(zhuǎn)波片。通過旋轉(zhuǎn)波片,可以實現(xiàn)偏振光的相位調(diào)節(jié),從而獲得不同偏...
查看詳情反射膜厚儀是一種用于測量薄膜材料厚度的儀器,用于確定薄膜材料的厚度。它通過測量光在膜層上的反射特性來確定膜層的厚度,具有非接觸、高精度和快速測量的優(yōu)勢。它在光學、電子和材料科學等領域具有廣泛應用,并不斷受到科研人員和工程師的關(guān)注與使用。工作原理基于光學干涉的原理,利用光的波長和相位差來計算膜層的厚度。儀器通常采用雙束干涉或多束干涉的方式進行測量。在雙束干涉中,一束光經(jīng)過樣品表面反射,另一束光直接被檢測器接收。兩束光的干涉產(chǎn)生干涉條紋,通過分析干涉條紋的變化可以確定薄膜的厚度。...
查看詳情橢偏儀是一種用于測量光學器件傳輸特性的重要工具。它通過測量光的偏振狀態(tài),可以分析和測量材料的光學性質(zhì)以及檢測光學元件的效能。基于光的偏振性質(zhì)進行測量和分析,其原理主要包括以下幾個方面:1、偏振光產(chǎn)生:使用偏振光源產(chǎn)生線偏振光,通常采用偏振片或激光二極管等裝置產(chǎn)生偏振光。2、光束調(diào)制:通過偏振片和波片,可以調(diào)整光束的偏振狀態(tài)和光程差,從而實現(xiàn)對光的操控和調(diào)節(jié)。3、檢測與測量:光束經(jīng)過待測樣品后,再次經(jīng)過波片和偏振片的調(diào)節(jié),通過檢測器進行光強的檢測和測量。4、數(shù)據(jù)分析:根據(jù)測量得...
查看詳情隨著科技的進步和應用領域的不斷擴大,對薄膜材料的需求也日益增加。薄膜在光電子、半導體、光學涂層等眾多領域中都發(fā)揮著關(guān)鍵作用,因此準確測量薄膜厚度成為了一項重要任務。為滿足這一需求,光學薄膜測厚儀應運而生。一、原理:光學薄膜測厚儀基于光學干涉原理,利用光波在不同介質(zhì)中傳播速度不同的特性進行測量。當光波經(jīng)過薄膜表面時,部分光波將被反射,而另一部分則穿透薄膜并與底襯基板上的反射光波相干疊加。通過控制入射角度或者波長,可以觀察到干涉現(xiàn)象,從而推導出薄膜的厚度信息。二、工作方式:該測厚...
查看詳情光學薄膜測厚儀是一種用于測量薄膜厚度的儀器,廣泛應用于電子、光學、材料等領域。以下是使用該測厚儀的基本步驟和注意事項:1、準備工作首先要確認所要測試的樣品尺寸,并按照規(guī)定的方式進行安裝。檢查設備是否處于正常工作狀態(tài),例如燈光是否亮著、顯示屏是否正常顯示等。2、校準儀器在使用前需要對儀器進行校準以保證測試結(jié)果的準確性。具體校準方法可以參考儀器操作手冊或者生產(chǎn)廠家提供的說明書。通常需要使用標準樣品進行校準。3、設置參數(shù)根據(jù)樣品的特點設置相應的參數(shù)。主要包括激光功率、測量范圍、測試...
查看詳情薄膜厚度測試儀是一種用于測量物體表面膜層厚度的設備,廣泛應用于各個領域中,如電子、光學、材料等。在制造工業(yè)中,精確地控制膜層厚度對產(chǎn)品的性能和功能至關(guān)重要。本文將介紹該儀器的原理、應用和使用方法。一、原理是基于光學原理或電磁感應原理。光學的是通過測量材料表面反射光的干涉來確定薄膜厚度,它利用光波在不同厚度的薄膜中產(chǎn)生相位差的特性進行測量。電磁感應的則根據(jù)感應電磁場的變化來測量薄膜厚度。二、應用該測試儀被廣泛應用于各個領域。在半導體行業(yè)中,被用于測量晶片表面上的氧化物或金屬敷層...
查看詳情027-87001728
關(guān)注我們
微信賬號
掃一掃
手機瀏覽
Copyright©2024 武漢頤光科技有限公司 版權(quán)所有 備案號:鄂ICP備17018907號-2 sitemap.xml 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸